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4.0μ光譜儀耗材樣品膜TF-240

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公司名稱德利正科技（香港）有限公司
品牌
型號(hào)
所在地廣州市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2018/12/11 14:38:43
訪問次數(shù)388

產(chǎn)品標(biāo)簽:

實(shí)驗(yàn)常用薄膜光譜儀耗材美國進(jìn)口光譜儀耗材 XRF樣品膜

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

德利正科技（香港）有限公司(Deligent Technology (HK) Limited)是一家專業(yè)代理、銷售、技術(shù)服務(wù)國內(nèi)外分析儀器的，提供配套分析測(cè)試技術(shù)服務(wù)的科技公司。本公司本著“誠信務(wù)實(shí)、優(yōu)質(zhì)服務(wù)”的經(jīng)營(yíng)理念，為廣大客戶提供Z佳的實(shí)驗(yàn)室整體解決方案。

我們積極引進(jìn)*進(jìn)的分析儀器和檢測(cè)技術(shù)，成為多家歐美儀器制造商在中國的*代理商、*經(jīng)銷商，為廣大用戶提供進(jìn)口儀器和技術(shù)服務(wù)。我們還根據(jù)客戶的分析檢測(cè)需求而提供專業(yè)的實(shí)驗(yàn)室集成方案，包括標(biāo)準(zhǔn)解讀、實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)、儀器設(shè)備采購、售前售后技術(shù)服務(wù)、耗材供應(yīng)等，為客戶提供“一站式服務(wù)”的實(shí)驗(yàn)室集成配套服務(wù)。

主營(yíng)產(chǎn)品：

1、進(jìn)口儀器設(shè)備：美國特納水中油分析儀、水質(zhì)分析儀、煙氣分析儀等；

2、實(shí)驗(yàn)室集成：水質(zhì)分析實(shí)驗(yàn)室、材料分析實(shí)驗(yàn)室、板材/紡織品/皮革檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，及其他各類實(shí)驗(yàn)室籌建；

3、耗材供應(yīng)：XRF樣品杯&樣品膜（美國Chemplex、美國PremierLab），標(biāo)樣標(biāo)液、常用藥品試劑；

4、技術(shù)服務(wù)：檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)解讀、技術(shù)咨詢、實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)、售前售后技術(shù)服務(wù)、儀器維修維護(hù)等。

服務(wù)客戶群體：

1、*、*、、*等機(jī)關(guān)、事業(yè)單位；

2、中石油、中石化、中海油等石油煉化企業(yè)；

3、各種生產(chǎn)企業(yè)。

展開顯示更多內(nèi)容

水中油分析儀，甲醛分析儀，XRF耗材，標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)及試劑

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè)，適用于RoHS&amp;amp;amp;amp;amp;WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。
4.0μ光譜儀耗材樣品膜TF-240

4.0μ光譜儀耗材樣品膜TF-240 產(chǎn)品信息

土壤樣品杯膜、XRF測(cè)試用的聚丙烯膜材質(zhì)、美國Premier樣品膜TF-240#

4.0μ光譜儀耗材樣品膜TF-240

品名：XRF樣品膜Sample Film

型號(hào)： CAT. NO TF-240#

品牌：美國Premier Lab (*）

貨期：現(xiàn)貨

起訂量：1盒以上。

一、美國Premier XRF樣品膜：

美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域，以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽(yù)。

美國Premier X-ray樣品膜(X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性，保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。

X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè)，適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。

二、Premier 樣品膜特點(diǎn)：

有卷狀和片狀，多種規(guī)格、尺寸、數(shù)量可供選擇；

柔韌性強(qiáng)、方便、耐用；

的X-ray射線穿透性，適合各類XRF光譜儀；

的抗化學(xué)腐蝕性能，不溶于有機(jī)溶劑，不污染待測(cè)樣品；

（幾乎不含）痕量雜質(zhì)，特別適合于輕質(zhì)元素的*檢測(cè)。

三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。