便宜出售HIOKI日置LCR測(cè)試儀3532-50
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LCR測(cè)試儀3532-50基本精度±0.08%,42Hz~5MHz的測(cè)試頻率,5ms高速測(cè)量,測(cè)量14種參數(shù),能提供與元器件工作條件更為接近的測(cè)試條件。可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡(jiǎn)便,改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕,所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái)
LCR測(cè)試儀3532-50利用外部I/O接口,事先將登錄的測(cè)量條件輸入,進(jìn)行不同測(cè)量條件的樣品選擇/評(píng)估。通過(guò)改變測(cè)量條件,登錄恰當(dāng)?shù)臏y(cè)量條件、比較條件,相對(duì)同一樣品也可進(jìn)行連續(xù)測(cè)量。用一臺(tái)測(cè)量?jī)x,構(gòu)筑于多品種的自動(dòng)化生產(chǎn)線,實(shí)現(xiàn)快5ms的高速測(cè)量。
LCR測(cè)試儀HIOKI 3532-50性能特點(diǎn):
測(cè)試|Z|, L, C, R
測(cè)試源頻率42Hz~5MHz
高速測(cè)量: 5ms
搭配寬幅測(cè)試頻率的阻抗測(cè)試儀
測(cè)試頻率可在42Hz~5MHz寬廣頻率量程內(nèi)以4位精確度自由調(diào)整
可很容易地測(cè)試被測(cè)物在高頻量程內(nèi)的特性。操作非常簡(jiǎn)便,改變?cè)O(shè)置時(shí)通過(guò)觸模屏幕,所需的設(shè)定選項(xiàng)會(huì)順序排列顯示出來(lái)
日置HIOKI 3532-50 LCR測(cè)試儀技術(shù)參數(shù): 測(cè)量參數(shù) │Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q
測(cè)量方法 測(cè)量源:恒流10μ~100mA(42Hz~1MHz),50μ~20mA (1MHz~5MHz),或恒壓10mV~5V(42Hz~1MHz),50mV~1V(1MHz~5MHz)
檢測(cè):電壓,AC
測(cè)量頻率 42Hz~5MHz
測(cè)量量程 │Z│,R,X:10.00mΩ~200.00MΩ(視條件而定)
θ:-180.00~+180.00o,C:0.3200pF~370.00mF
L:16.000nH~750.00kH, D:0.00001~9.99999
Q:0.01~999.99, Y,G,B:5.0000nS~99.999S
基本精度 │Z│: ± 0.08% rdg.,θ: ± 0.05°
測(cè)量時(shí)間│Z│的典型值 快速:5ms~ 慢速2:140ms
顯示 大顯示值99999,LCD背光功能
比較器功能 設(shè)定:上、下限值,百分比或值 輸出:3檔(高,中,低),開(kāi)路集電極,絕緣
外部打印 9442 (與9443/9446/9593-01同時(shí)使用)
電源供應(yīng) 100~240V AC 50/60Hz
體積及重量 352寬 x124高 x 323厚mm,6.5kg
附件 電源線(1),保險(xiǎn)絲(1)
備注:
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