哈爾濱激光粒度儀供應(yīng)商,噴霧激光粒度檢測(cè)儀生產(chǎn)廠(chǎng)家
鷺工主要經(jīng)營(yíng)儀器儀表類(lèi)產(chǎn)品,例如固體密度計(jì)、 液體密度計(jì),液體在線(xiàn)密度計(jì),水分分析儀等等。LAP-S2000噴霧激光密度儀是鷺工的主營(yíng)產(chǎn)品之一,LAP-S2000采用了可分可合式結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu),分開(kāi)即成了分體式結(jié)構(gòu),可測(cè)試遠(yuǎn)距離樣品,保證了儀器在不同環(huán)境中適用;合起來(lái)LAP-S2000即成了一體式結(jié)構(gòu),一體式結(jié)構(gòu)會(huì)更加穩(wěn)定,測(cè)量結(jié)果不受環(huán)境影響,LAP-S2000采用了大平臺(tái),即使一體式使用也能滿(mǎn)足1到3米的距離上正常測(cè)試。更多哈爾濱激光粒度儀產(chǎn)品信息昆山鷺工精密儀器有限公司黃工:。
哈爾濱激光粒度儀供應(yīng)商,噴霧激光粒度檢測(cè)儀生產(chǎn)廠(chǎng)家
*的光路設(shè)計(jì):
LAP-S2000(哈爾濱激光粒度儀)采用了夫瑯禾費(fèi)衍射原理和典型的平行光路設(shè)計(jì),配備了大功率的半導(dǎo)體激光器;*的高密度探測(cè)單元,讓LAP-S2000擁有了*的小顆粒測(cè)試能力,LAP-S2000在1μm~2000μm內(nèi)無(wú)縫測(cè)試。同時(shí)LAP-S2000又加入了光路自動(dòng)調(diào)整裝置,方便操作的同時(shí)又延長(zhǎng)了儀器的適用壽命。
光路自動(dòng)校對(duì):
因環(huán)境的變換會(huì)造成儀器的微量變化,這樣會(huì)使測(cè)量結(jié)果誤差增大,LAP-S2000(哈爾濱激光粒度儀)加入了光路自動(dòng)調(diào)整系統(tǒng),保證了儀器測(cè)量的穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性。
大功率半導(dǎo)體激光器:
LAP-S2000采用了大功率的半導(dǎo)體激光器,增強(qiáng)了儀器的分辨能力,使小顆粒也無(wú)處藏身。
*微量循環(huán)系統(tǒng):(選配)
LAP-S2000可以選配濕法循環(huán)裝置,這樣噴霧粒度儀瞬間成為濕法粒度儀。整個(gè)分散循環(huán)系統(tǒng)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì),分散介質(zhì)大于120毫升即可循環(huán)測(cè)試,真正達(dá)到了微量循環(huán)測(cè)試;優(yōu)化的設(shè)計(jì)保證排水后無(wú)廢夜殘留,保證了下一次測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性,濕法優(yōu)點(diǎn)可參考LAP-S2000。
超寬量程:
LAP-S2000量程達(dá)到了1μm~2000μm。
強(qiáng)大的分析軟件:
強(qiáng)大的分析軟件可以隨時(shí)記錄所有激光束的內(nèi)所有霧滴的粒度分布。在激光束內(nèi)移動(dòng)噴霧測(cè)試結(jié)果可以被連續(xù)記錄和統(tǒng)計(jì)分析。
主要技術(shù)參數(shù):
規(guī)格型號(hào):LAP-S2000
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):ISO13320,GB/T19077.1-2003
測(cè)試范圍:1μm~2000μm
通道數(shù):60+
準(zhǔn)確性:<1%(標(biāo)樣D50偏差)
重復(fù)性:<1%(標(biāo)樣D50偏差)
激光:LD泵浦激光器;λ=532nm;p>40mw
軟件運(yùn)行環(huán)境:Windows2000、WindowsXP、Windows7
測(cè)試速度:<1min/次
接口方式:RS232或USB方式
鷺工其他激光粒度儀:
納米粒度儀LAP-NM10000量程:1~10000nm;
濕法激光粒度儀LAP-W1000量程:0.05~1000μm;
濕法激光粒度儀LAP-W300量程:0.1~300μm;
濕法激光粒度儀LAP-W320量程:0.2~320μm;
濕法激光粒度儀LAP-W300H量程:
0.1~260μm、0.1~600μm、0.1~800μm;
濕法激光粒度儀LAP-W2000量程:0.1~2000μm;
濕濕法激光粒度儀LAP-W2000量程:0.1~2000μm;
干法激光粒度儀LAP-D800量程:0.1~800μm;
干法激光粒度儀LAP-D2000量程:0.01~2000μm;
干濕一體激光粒度儀LAP-DW2000量程:0.1~2000μm;
噴霧激光粒度檢測(cè)儀LAP-S2000量程:1~2000μm;
噴霧激光粒度檢測(cè)儀LAP-S800量程:0.5~800μm;
噴霧激光粒度檢測(cè)儀LAP-S280量程:0.1~270μm;
噴霧激光粒度檢測(cè)儀LAP-S500量程:1~500μm;
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