技術(shù)指標(biāo)：

ICT4040XP/4880XP/8080XP 電路板故障檢測(cè)儀
keqi[ICT]系列檢測(cè)儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對(duì)各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè)元器件好壞，迅速檢測(cè)到電路板上故障元器件。簡(jiǎn)捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類型電路板。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆*的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專家
◆無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修
◆40/40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)
◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測(cè)試功能
◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較
◆與進(jìn)口同類儀器比較，性價(jià)比更優(yōu)，操作更方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試
◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄，比較分析來(lái)測(cè)試


工作原理： 全功能ASA+ICT測(cè)試器

ASA（Analong signature Analysis）對(duì)元件每個(gè)管腳提供一個(gè)安全、低功率的掃描驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào)，以便產(chǎn)生一個(gè)阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲(chǔ)，以備比對(duì)。所有測(cè)試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會(huì)傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲(chǔ)各類IC每個(gè)管腳V/I曲線圖形，并且對(duì)各類分立元件如：電阻、電容等同樣有效。
ICT（In circuit Testing）它能把待測(cè)元件與PC資料庫(kù)內(nèi)相對(duì)應(yīng)的元件資料作邏輯功能測(cè)試比較，測(cè)試時(shí)可在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)，元件輸入管腳的輸入波形，同時(shí)顯示相應(yīng)輸出管腳的實(shí)測(cè)波形及標(biāo)準(zhǔn)波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測(cè)試IC好壞，也可測(cè)試分析，還可識(shí)別不明型號(hào)的IC。

[ICT]系列檢測(cè)儀檢測(cè)更加可靠準(zhǔn)確
■ 功能測(cè)試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開(kāi)路門(mén)的測(cè)試 ■ 功能測(cè)試外供電源穩(wěn)定可靠——各種大、中、小型被測(cè)電路板皆可測(cè)試 ■ 功能測(cè)試具有三態(tài)識(shí)別能力——可測(cè)三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障 ■ V/I測(cè)試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線 ■ V/I測(cè)試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線測(cè)試穩(wěn)定可靠 ■ V/I測(cè)試三種測(cè)試電壓幅度——確保各類器件的V/I測(cè)試集成電路在線功能測(cè)試

集成電路在線狀態(tài)測(cè)試

本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測(cè)74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲(chǔ)器等千余種集成電路。
1、快速測(cè)試：直接顯示測(cè)試結(jié)果，迅速確定可疑IC
2、分析測(cè)試：顯示全部測(cè)試過(guò)程，測(cè)試激勵(lì)。預(yù)期和實(shí)際響應(yīng)，幫助分析故障原因
3、器件識(shí)別：查找無(wú)標(biāo)記型號(hào)IC或同功能不同型號(hào)的IC。
集成電路在線狀態(tài)測(cè)試
通過(guò)好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。
1、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)*IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測(cè)試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中
2、狀態(tài)比較：同故障板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞
3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫(kù)中的各IC的狀態(tài)資料。

集成電路離線功能測(cè)試

離線測(cè)試IC功能好壞，自動(dòng)識(shí)別未知型號(hào)的芯片
IC邏輯圖查詢
可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數(shù)。

V/I曲線測(cè)試

通過(guò)好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC
1、學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)*板上各節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中
2、曲線比較：同故障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)的IC是否損壞
3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫(kù)中電路板上各個(gè)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料大

網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試

使用戶方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系，輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采用了四種模式：
1、探棒對(duì)探捧（“棒”—“棒”模式） 3、測(cè)試夾對(duì)探捧（“夾”—“棒”模式）
2、探捧對(duì)測(cè)試夾（“棒”—“夾”模式） 4、測(cè)試夾對(duì)測(cè)試夾（“夾”—“夾”模式）


開(kāi)發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測(cè)試都安排了一個(gè)說(shuō)明文件。該說(shuō)明文件可以通過(guò)任何一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應(yīng)子測(cè)試關(guān)聯(lián)起來(lái)，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說(shuō)明文件。
1、TVED允許兩種建立測(cè)試圖形和方法 a）在TVED圖形界面上直接建立 b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結(jié)果
2、編輯測(cè)試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng)，不斷對(duì)測(cè)試圖形加以調(diào)整、修改。
3、4種測(cè)試方式： a）完整執(zhí)行一個(gè)測(cè)試 b）執(zhí)行一個(gè)測(cè)試的一部分c）循環(huán)執(zhí)行 d）單步運(yùn)行