直銷太陽膜透過率測量儀 型號:LS-100
太陽膜透過率測量儀是公司研發(fā)的一款高精度太陽膜測試儀,專業(yè)測試太陽膜的紫外線透過率,可見光透過率和紅外線透過率。
儀器參數(shù):
1:外形尺寸: 長160mm × 寬115mm × 高33mm;
直銷太陽膜透過率測量儀 型號:LS-100
2:測試槽尺寸:寬23mm × 深76 mm;
3:儀器重量: 425克;
4:測量值<10%時,分辨率是0.1%;其他量程分辨率為1%;
5:測量精度:優(yōu)于±2%(無色均勻透光物質(zhì)),出廠用標準樣板檢測優(yōu)于±1%;
6:紫外線: 中心波長365nm;
7:可見光: 380nm-760nm全波長;
8:紅外線: 中心波長1400nm;
9:9V AC/DC電源供電,也可用便攜式外掛鋰電池包供電。
型號:LS-100
儀器特點:
1:紫外透過率儀,紅外透過率儀,可見光透過率儀(透光率計)三合一;
2:適用于汽車膜,防爆膜,建筑膜,隔熱膜,貼膜玻璃等的透光率測試;
3:儀器具有實時動態(tài)自校準功能,開機后自動校準到透過率;
型號:LS-100
4:操作簡單,測量快速,只需將被測物放入測試槽,立即同時顯示三項測試結(jié)果;
5:適用于太陽膜性能展示展覽,生產(chǎn),質(zhì)檢,驗貨等多種場合;
6:儀器配有的便攜式鋁箱,方便外出攜帶。
產(chǎn)品名稱:淀粉粘度測量儀 產(chǎn)品型號:FDV-C |
淀粉粘度測量儀 淀粉粘度計 型號:FDV-C
簡易型:FDV-C簡易淀粉粘度測量儀,符合國標 GB/T 12098-89 功能:單點溫度
下測量淀粉粘度值。轉(zhuǎn)子轉(zhuǎn)速 30、75、100、150轉(zhuǎn)/分 4檔配置:淀粉 F1轉(zhuǎn)子
一個、樣品量 10ml、一個主機、測量筒(SSR系統(tǒng)帶 PT100溫度探頭)。選配:
產(chǎn)品名稱:實驗室高速分散機 產(chǎn)品型號:SFSS400 |
實驗室高速分散機是針對不同粘度產(chǎn)品的溶解分散、混合均勻,使物料進行快速分散和溶解;可一機多用,實現(xiàn)分散、研磨、攪拌等功能;拆卸方便(更換不同大小的分散盤或更換研磨盤),易清洗,處理量范圍寬;被廣泛用于新產(chǎn)品的開發(fā)和科研單位的實驗室。轉(zhuǎn)速數(shù)字顯示,無級調(diào)速、運轉(zhuǎn)穩(wěn)定、噪音小、可長時間連續(xù)使用。該機結(jié)構(gòu)簡單,使用方便,是實驗室*的試驗設(shè)備。
原理:
通過分散盤的高速運轉(zhuǎn),使物料呈環(huán)狀liu,產(chǎn)生強旋渦,呈螺旋狀下降到渦流底部。粒子間產(chǎn)生強烈的剪切撞擊與磨擦,達到迅速分散、溶解、均勻混合、乳化的功能。
設(shè)備型號 :SFS-S 400
電機功率 :400W
電機形式 :精密微特電機
電壓 :220V;50Hz
工作頭配置 :Φ50、Φ80分散盤各一只、Φ45、Φ60砂磨盤各一只
轉(zhuǎn)速范圍 :0-8000rpm 轉(zhuǎn)速數(shù)字顯示 無級調(diào)速
處 理 量 :0.2-5L,以水為介質(zhì)
接觸物料材質(zhì) :SS304
升降方式 :手動升降,配有平衡錘,升降靈活方便
設(shè)備重量 :20Kg
設(shè)備尺寸 :450×420 × 860mm
包 裝 :標準包裝(木箱包裝)
產(chǎn)品名稱:非接觸厚度電阻率測試儀 產(chǎn)品型號:JXNRT1 |
非接觸厚度電阻率測試儀型號:JXNRT1
一、測試原理
1、電阻率測試探頭原理
電阻率測試模塊是由一對共軸渦流傳感器,以及后續(xù)的處理電路組成。將半導(dǎo)體硅片置于兩個探頭的間隙中時,在電磁場的作用下,半導(dǎo)體硅片中會產(chǎn)生渦流效應(yīng),通過檢測渦流效應(yīng)的大小,可以換算出該硅片的電阻率和方塊電阻。本方法是一種非接觸無損測量的方法,不損傷材料表面,可以在大多數(shù)場合有效替代四探針法測試電阻率以及方塊電阻。
2、厚度測試探頭原理
厚度探頭采用的是一對共軸電容位移傳感器。電容傳感器具有重復(fù)性好,測試數(shù)值穩(wěn)定,技術(shù)成熟等優(yōu)點,廣泛用于各種材料厚度的測試。
二、適用范圍
本設(shè)備為非接觸無損測量設(shè)備,測試過程中對硅片表面以及內(nèi)部不會造成損傷。特別適用于代替四探針法用于半導(dǎo)體硅片成品分選檢驗。一臺儀器可以同時對厚度和電阻率兩個指標進行測試分選,減少了測試工序和測試時間,提高了測試效率。
典型的客戶:科研單位、硅片生產(chǎn)廠商、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、光伏企業(yè)、導(dǎo)電薄膜研發(fā)生產(chǎn)企業(yè)。
三、儀器構(gòu)成
1、測試主機:1 臺
2、電源線:1 根
3、串口數(shù)據(jù)線:1 根
4、電腦端軟件:1 套
5、塑料定位柱:2 個
四、儀器外觀尺寸結(jié)構(gòu)及圖片
1、整機尺寸:340*260*180mm
2、機箱顏色:電腦白
3、儀器結(jié)構(gòu):本儀器采用厚度探頭和電阻率探頭前后并列安裝的方式。
五、儀器主要指標
1、電氣規(guī)格
a. 使用標準三插頭,由 220V 交流電供電,整機功耗小于 15 瓦。
b. 本儀器測試平臺和外殼均為金屬材料,按照安全規(guī)范,請確保電源地線正確連接。
2、測試范圍
測試樣品要求:厚度小于 600um 的半導(dǎo)體硅片以及其他類似材料。(為客戶提供特殊定制,厚度大的測試范圍可以擴展到 800um)
電阻率范圍: L 檔: 0.2-5 Ω·cm
H 檔: 5-50 Ω·cm
注: 電阻率不在上述量程范圍內(nèi)的可以按要求調(diào)整, 調(diào)整的范圍可以在0.001-100Ω*cm。
厚度范圍: 100-600 um (定制版可以做到 300-800um) 注:普通版本厚度大于 700um 的硅片無法放入測試區(qū)域。