是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統(tǒng)。
可應用于在線膜厚測量,測氧化物,SiNx,感光保護膜和半導體膜.也可以用來測量鍍在鋼,鋁,銅,陶瓷和塑料等上的粗糙膜層. 薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉,干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關,因此可通過計算得到薄膜的厚度.光干涉法是一種無損,精確且快速的光學薄膜厚度測量技術,薄膜測量系統(tǒng)采用光干涉原理測量薄膜厚度。
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德國FISCHER成立1953年是世界上專業(yè)生產(chǎn)塗鍍層測厚儀Z早的廠家之一, 其電鍍膜厚儀佔世界80%以上的市場,在膜厚測量領域獨領風騷,是鍍層厚度測量和材料測試儀器領域公認的領導者,通過旗下12家子公司和32個在不同國家的代表處活躍於,金霖電子在香港經(jīng)營多年,在科研機構、高等院校,線路板、五金電鍍、汽車製造、衛(wèi)浴、連接器、鐘錶、珠寶首飾領域擁有大量的客戶群,讓客戶滿意,為客戶創(chuàng)造較大的價值是金霖始終追求的目標。
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是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統(tǒng)。
可應用于在線膜厚測量,測氧化物,SiNx,感光保護膜和半導體膜.也可以用來測量鍍在鋼,鋁,銅,陶瓷和塑料等上的粗糙膜層. 薄膜表面或界面的反射光會與從基底的反射光相干涉,干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關,因此可通過計算得到薄膜的厚度.光干涉法是一種無損,精確且快速的光學薄膜厚度測量技術,薄膜測量系統(tǒng)采用光干涉原理測量薄膜厚度。
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