BX51-P是利用偏光識別樣品的不同特性的高級偏光系統顯微鏡。適用于各向同性、各向異性材料的鑒別，廣泛應用于礦物、化工產品，醫(yī)學、植物學等分析。
- UIS2物鏡觀察到的鮮明影像
- 的操作性能和光學性能
- 對應高級偏振光觀察的附件
UIS2物鏡觀察到的鮮明影像
能夠實現zui小光學失真的偏振光用物鏡ACHN-P、UPLFLN-P系列產品中選擇所需產品。UPLFLN-P系列物鏡是能夠用于微分干涉觀察和包括紫外線激發(fā)的熒光觀察的通用物鏡，能應對包含偏振光觀察的多種研究和檢查。
*EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。
| 觀察影像實例 | |
 石英閃長巖中的斜長石帶狀結構 |  液晶MBBA（甲氧基的氨基聯苯丁基苯胺） |
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的操作性能和光學性能
操作簡便、觀察清晰的顯微鏡機體
*追求人機工程學的Y形框架，操作更為舒適，提高了觀察效率。*地降低了長時間觀察的疲勞度。
視場數達到了22，與一般視場數為20的顯微鏡相比，觀察的范圍增寬了21%。此外，照明系統采用了12 V，100 W明亮的鹵素燈，能觀察明亮逼真的偏振光影像。
支持更高效的偏振光觀察的載物臺
帶有旋轉中心輸出機構的旋轉載物臺，樣品可以流暢旋轉。此外，每隔45°裝有的鎖定機構，提高了觀察效率。
旋轉載物臺上裝有復式機械載物臺，能夠控制樣品的細微移動。
 旋轉載物臺 |  復式機械載物臺 |
對應高級偏振光觀察的附件
偏振光性能優(yōu)異的附件
 各種補償板的延遲測量范圍 | 全面改良了偏振光用聚光鏡和偏振光板的設計，提高了偏振光性能，實現了高EF值*、高對比度的偏振光觀察。 *EF值：平行尼科爾和正交尼科爾亮度比較，EF值越高光學失真越少，表明偏振光特性越好。 |
| 各種補償板的延遲測量范圍 | ||
| 補償板 | 測量范圍 | 主要用途 |
| U-CTB厚型Berek | 0-11,000nm | 較大的延遲測量（R*＞3λ）。（結晶、高分子、纖維、光彈性失真等） |
| U-CBE Berek | 0-1,640nm | 延遲測量（結晶、高分子、纖維、生物體組織等） |
| U-CSE Senarmont | 0-546nm | 延遲測量（結晶、生物體組織等）對比度增強（生物體組織等） |
| U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ | 0-55nm | 微小延遲測量（結晶、生物體組織等） 對比度增強（生物體組織等 |
| U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ | 0-20nm | |
| U-CWE2 石英楔子 | 500-2,200nm | 延遲的近似測量（結晶、高分子等） |
*R表示延遲。
為提高測量精度，建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。（U-CWE2除外）
鮮明的正像鏡影像和錐光鏡影像
 錐光鏡／正像鏡觀察單元 | 簡單的操作就可以切換正像鏡和錐光鏡，并且能夠對焦錐光鏡影像。此外，采用了伯特蘭透鏡，即使是樣本的微小范圍，也能觀察到逼真的錐光鏡影像。 |
使用數碼照相機可以記錄保存數碼圖像
三目觀察筒可以連接數碼照相機?？梢员４婧陀涗洈荡a影像，幫助創(chuàng)建檢查報告。可從畫面質量、功能、操作性等方面選擇所需的數碼照相機。奧林巴斯圖像分析軟件是專門為工業(yè)顯微鏡應用程序設計的，擁有直觀的操作菜單和高級軟件例行程序。用戶被*使用的圖像分析和管理方案，以滿足特定應用程序的需要。
