高達(dá) 10kV 的數(shù)字式絕緣測(cè)試新型 1555 和經(jīng)過重新設(shè)計(jì)的 Fluke 1550C 絕緣電阻測(cè)試儀可進(jìn)行高達(dá) 10kV 的數(shù)字式絕緣測(cè)試，這使得它們非常適合廣泛的高壓設(shè)備，如開關(guān)柜、電動(dòng)機(jī)、發(fā)電機(jī)和電纜。現(xiàn)在，福祿克的絕緣測(cè)試儀可進(jìn)行 IEEE 43-2000 中規(guī)定的全面電壓測(cè)試，安全等級(jí)達(dá) CAT IV 600 V，是同類儀器中的*產(chǎn)品，并提供 3 年保修。1555 和 1550C 帶有測(cè)量值存儲(chǔ)器和 PC 接口，可在潛在設(shè)備故障發(fā)生之前將其發(fā)現(xiàn)，是用于預(yù)防性或預(yù)測(cè)性維護(hù)的理想工具。
功能與優(yōu)點(diǎn)
· 測(cè)試電壓高達(dá) 10 kV，適合所有應(yīng)用
· CAT III 1000 V, CAT IV 600 V 安全等級(jí)
· 電壓擊穿檢測(cè)功能可提醒用戶存在電壓，并給出zui高 600 V（交流或直流）的電壓讀數(shù)，提高了用戶安全性
· 在 250 - 1000 V 范圍內(nèi)，可以 50 V 步長(zhǎng)選擇測(cè)試電壓；高于 1000 V 時(shí)，可以 100 V 步長(zhǎng)選擇測(cè)試電壓
· 可在多達(dá) 99 個(gè)存儲(chǔ)位置存儲(chǔ)測(cè)量值，每個(gè)位置可分配一個(gè)*的用戶定義標(biāo)簽，以便調(diào)用
· 電池壽命長(zhǎng)，兩次充電之間可進(jìn)行 750 次以上測(cè)試
· 自動(dòng)計(jì)算介質(zhì)吸收比 （DAR） 和極化指數(shù) （PI），無需其他設(shè)置
· 保護(hù)系統(tǒng)可消除高阻測(cè)量時(shí)表面泄漏電流的影響
· 大號(hào)數(shù)字式/模擬式 LCD 顯示屏，便于查看
· 可進(jìn)行電容和泄漏電流測(cè)量
· 具有用于擊穿測(cè)試的斜坡功能
· 可測(cè)量高達(dá) 2T? 的電阻
· 定時(shí)測(cè)試時(shí)，可進(jìn)行zui長(zhǎng) 99 分鐘的定時(shí)器設(shè)置
· 3 年保修
電氣技術(shù)參數(shù)
所規(guī)定的測(cè)試儀準(zhǔn)確度是校準(zhǔn)之后一年之內(nèi)在 0 °C 至 35 °C 工作溫度下的準(zhǔn)確度。工作溫度超出此范圍時(shí)（-20 °C 至 0 °C 以及 35 °C 至 50 °C），需將準(zhǔn)確度數(shù)值增加 ± 0.25 % / °C，但在 20 % 誤差范圍時(shí)，需增加 ± 1 % /°C。
| 絕緣電阻測(cè)量 | ||
| 測(cè)試電壓（直流） | 量程（直流） | 準(zhǔn)確度（± 讀數(shù)） |
| 250 V | < 200 kΩ | 未規(guī)定 |
| 500 V | 200 kΩ | 未規(guī)定 |
| 1000 V | < 200 kΩ | 未規(guī)定 |
| 2500 V | < 200 kΩ | 未規(guī)定 |
| 5000 V | < 200 kΩ | 未規(guī)定 |
| 10000 V | < 200 kΩ | 未規(guī)定 |
| 條形圖范圍 | 0 至 1 TΩ | |
| 絕緣測(cè)試電壓準(zhǔn)確度 | -0 %, +10 %，在 1 mA 負(fù)載電流下 | |
| 感應(yīng)交流電流抑制 | 2 mA zui大值 | |
| 容性負(fù)載充電速率 | 5s/μF | |
| 容性負(fù)載放電速率 | 1.5s/μF | |
| Leakage current measurement | 范圍：1 nA 至 2 mA | 準(zhǔn)確度：± （5 % + 2 nA） |
| 電容測(cè)量 | 范圍：0.01 uF 至 15.00 μF | 準(zhǔn)確度：± （15 % 讀數(shù) + 0.03 μF） |
| 定時(shí)器 | 范圍：0 - 99 分鐘 | 分辨率準(zhǔn)確度： |
| 帶電電路警告 | 警告范圍： | 電壓準(zhǔn)確度： |
